在玩《幽灵线：东京》开启光追时，内存因积热导致电压不稳并引发画面微撕裂，是不是该校准风道配合降压来维持动态平衡？

实操发现，在开启极致光追后，主板内存槽周围的温度积热导致 DDR5 内存的电压在 1.35V 以上时出现不自然波动，从而在画面输出端产生电磁噪声导致的撕裂感。起初试着强行拉高时钟频率以对齐同步率，却直接导致系统无法通过 FCLK 测试崩溃。随后重新通过安装定向风扇优化内存冷却通道，并在 BIOS 的内存电压界面将 VDD 设定在 1.28V - 1.32V 的低压区间。使用 HWinfo64 监测到内存最高运行温度从 65℃ - 72℃ 下降至 48℃ - 52℃ 之间，画面撕裂感彻底消失且频率再无掉线。不得不承认，这种降压策略会导致极端峰值性能略微减弱，无法在跑分软件中刷出最高分，但在实际游戏流程中却获得了极高的鲁棒性。之前盲目追求数字上的性能通过而忽略了热力学基础，这次的软硬协同调校反而证明了稳健才是光追游戏的最佳路径。